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    X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

    描述:品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動速度:60mm/s

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      產品型號:
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      廠商性質:生產廠家
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      更新時間:2023-10-18
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      訪問量:1179
    詳細內容/ Product Details
      X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設備。

    1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

    2.印刷線路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

    3.黃金成分分析

    4.測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

    5.分析復雜的多鍍層系統(tǒng);

    6.全自動測量,如:用于質量控制領域。

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