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    全自動X-RAY檢測設(shè)備

    描述:品牌:正業(yè) 用途:用于元立件、IC芯片、IGBT等無損檢測分析 檢測內(nèi)容: 1、IC內(nèi)部異物(如:金屬絲.多余線,多余Die) 2、IC線性缺陷(如:塌線,線擺,線緊,線弧高,線弧低,平頂,飛線、少線,斷線等壞品)

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      產(chǎn)品型號:
    • 02/

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 03/

      更新時間:2024-03-12
    • 04/

      訪問量:1305
    詳細內(nèi)容/ Product Details

    全自動X-RAY檢測設(shè)備具有一套Xray成像系統(tǒng),四軸機器人自動上下料,針對半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)的分立元件進行在線全自動檢測,可自適應(yīng)7英寸,11英寸,13英寸的料盤。該設(shè)備通過Xray發(fā)生器發(fā)出X射線,穿透芯片內(nèi)部,由平板探測器接收X射線進行成像,通過圖像算法對圖像進行分析、判斷,確定良品與不良品,并通過復(fù)盤功能,確定芯片在料盤中的序號,以便后端將不良芯片挑出。



            一、算法軟件功能強


     1. 自主研發(fā)的復(fù)盤算法能夠?qū)崟r復(fù)盤,邊采圖邊復(fù)盤。

            2. 人機交互功能豐富。界面圖片可拖拽、縮放,可在復(fù)盤圖上雙擊NG芯片,即可索引并顯示出該芯片的原圖、NG類型等信息。

            3. 自主研發(fā)的檢測算法能夠自動準(zhǔn)確地檢測芯片的線型及芯片導(dǎo)物等不良項。

     4. 軟件具備掃碼、MES上傳、人工復(fù)判等功能。


    二、檢測效率高

    整盤矩陣式采圖,無需拉料卷料;具有CCD視覺定位系統(tǒng),機器人自動上料。7英寸料盤檢測用時3min(3000pcs)。



           三、 生產(chǎn)線對接

           具備與AGV對接功能。


           四、 安全環(huán)保

           整個設(shè)備安全互鎖,三重防護功能,機身表面任何部位均滿足安全輻射標(biāo)準(zhǔn)







    檢測內(nèi)容:

    1、 IC內(nèi)部異物(:金屬絲.多余線,多余Die)

            2、IC線性缺陷(如:塌線,線擺,線緊,線弧高,線弧低,平頂,飛線、少線,斷線等壞品)



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